عرض القائمة
الرئیسیة
البحث المتقدم
قائمة المکتبات
إختر اللغة
فارسی
English
العربی
عنوان
Testing and reliable design of CMOS circuits
پدید آورنده
Jha, Niraj K.
موضوع
، Metal oxide semiconductors, Complimentary- Testing,، Metal oxide semiconductors, Complimentary- Reliability,، Integrated circuits- Very large scale integration- Design and construction
رده
کتابخانه
كتابخانه پژوهشگاه نیرو
محل استقرار
استان:
طهران
ـ شهر:
طهران
تماس با کتابخانه :
9
-
88079401
-
021
4694
Jha, Niraj K.
Testing and reliable design of CMOS circuits
Boston
Kluwer Academic Publishers
c1990
xii, 231 p. :ill. ;25 cm
Kluwer international series in engineering and computer science ; SECS 88.
VLSI, computer architecture, and digital signal processing
Includes bibliographical references.
، Metal oxide semiconductors, Complimentary- Testing
، Metal oxide semiconductors, Complimentary- Reliability
، Integrated circuits- Very large scale integration- Design and construction
621
.
39/732
TK
7871
.
99
.
M44J49
1990
AU
by Niraj K. Jha. and Sandip Kundu
AU .pidnaS ,udnuK
TI
الاقتراح / اعلان الخلل
×
الاقتراح / اعلان الخلل
×
تحذیر!
دقق في تسجیل المعلومات
اعلان الخلل
اقتراح