• صفحه اصلی
  • جستجوی پیشرفته
  • فهرست کتابخانه ها
  • درباره پایگاه
  • ارتباط با ما
  • تاریخچه
تعداد ۱۵۰۴ پاسخ غیر تکراری از ۱۵۷۱ پاسخ تکراری در مدت زمان ۰,۵۲ ثانیه یافت شد.

1421. Transmission electron microscopy characterization of nanomaterials

پدیدآورنده: / Challa S.S.R. Kumar

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه کردستان (کردستان)

موضوع: Nanostructured materials,Nanotechnology

رده :
TA418
.
9
.
N35K862013eb
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

1422. Transmission electron microscopy : diffraction, imaging, and spectrometry

پدیدآورنده: C. Barry Carter, David B. Williams )eds.(

کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)

موضوع: ، Transmission electron microscopy.

رده :
QH
212
.
T39
2016
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

1423. Transmission electron microscopy : methods and application

پدیدآورنده: Racker, Darlene K.

کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)

موضوع: Transmission electron microscopes , Electron microscopy - Technique

رده :
QH
212
.
T7
R33
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

1424. Transmission electron microscopy of materials

پدیدآورنده: / [by] Gareth Thomas and Michael J. Goringe

کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)

موضوع: Electron microscopy,Materials -- Testing

رده :
TA417
.
23
.
T48
1979
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

1425. Transmission electron microscopy of materials

پدیدآورنده: / [by] Gareth Thomas and Michael J. Goringe

کتابخانه: کتابخانه دانشکدگان فنی 1 دانشگاه تهران (تهران)

موضوع: Electron microscopy,Materials -- Testing

رده :
TA
417
.
23
.
T48
1979
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

1426. Transmission electron microscopy of metals

پدیدآورنده: Thomas, Gareth

کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)

موضوع: ، Electron microscope

رده :
TN
690
.
T48
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

1427. Transmission electron microscopy of materials

پدیدآورنده : Thomas, Gareth

موضوع : Electron microscopy►Materials -- Testing

۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.

1428. Transmission electron microscopy of metals

پدیدآورنده:

کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)

موضوع: Metallography,Electron microscope

رده :
TN
690
.
T48
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

1429. Transmission electron microscopy of metals

پدیدآورنده:

کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و موزه دانشگاه شهید بهشتی (تهران)

موضوع: Metallography,Electron microscopes

رده :
669
.
95
Th-T
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

1430. Transmission electron microscopy of metals

پدیدآورنده:

کتابخانه: کتابخانه دانشکدگان فنی 1 دانشگاه تهران (تهران)

موضوع: Metallography,Electron microscope

رده :
TN
690
.
T48
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

1431. Transmission electron microscopy of metals

پدیدآورنده: THOMAS,GRAETH

کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)

موضوع: METALLOGRAPHY , ELECTRON MICROSCOPE

رده :
TN
690
.
T48
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

1432. Transmission electron microscopy of minerals and rocks /

پدیدآورنده: Alex C. McLaren.

کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع: Mineralogy, Determinative.,Transmission electron microscopy.,Durchstrahlungselektronenmikroskopie,Durchstrahlungselektronenmikroskopie.,Gestein,Gestein.,Microscopie électronique en transmission.,Mineral,Mineral.,Mineralogie,Mineralogie.,Mineralogy, Determinative.,Transmission electron microscopy.

رده :
QE369
.
M5
M36
1991
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

1433. Transmission electron microscopy of minerals & rocks

پدیدآورنده: MCLAREN,ALEX C

کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)

موضوع: MINERALOGY,DETERMINATIVE , TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPES

رده :
QE
369
.
M5
M36
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

1434. Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures

پدیدآورنده: / Andreas Rosenauer

کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)

موضوع: Semiconductors, Analysis,Semiconductors, Microscopy,Transmission electron microscopy

رده :
QD139
.
S34
,
R67
2003
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

1435. Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures

پدیدآورنده: / Andreas Rosenauer

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه محقق اردبیلی ره (اردبیل)

موضوع: Semiconductors- Analysis,Semiconductors- Microscopy,Transmission electron microscopy

رده :
QD139
.
S34
,
R67
2003
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

1436. Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures

پدیدآورنده: Andreas Rosenauer

کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه علوم و فناوری رنگ (تهران)

موضوع: Semiconductors, Analysis,Semiconductors, Microscopy,Transmission electron microscopy

رده :
RIS Bibtex ISO

1437. Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures :

پدیدآورنده: Andreas Rosenauer.

کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع: Semiconductors-- Analysis.,Semiconductors-- Microscopy.,Transmission electron microscopy.,33.68 surfaces, interfaces and thin layers.,51.39 materials testing, properties of materials: other.,Durchstrahlungselektronenmikroskopie,Durchstrahlungselektronenmikroskopie.,Física moderna.,Nanostruktur,Nanostruktur.,Semiconductors-- Analysis.,Transmission electron microscopy.,Verbindungshalbleiter,Verbindungshalbleiter.

رده :
QD139
.
S34
R67
2003
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

1438. Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures : an analysis of composition and strain state

پدیدآورنده: Andreas Rosenauer

کتابخانه: کتابخانه پژوهشگاه دانشهای بنیادی (تهران)

موضوع: Analysis ، Semiconductors,Microscopy ، Semiconductors,، Transmission electron microscopy

رده :
QD
139
.
S34R6
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

1439. Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures :an analysis of composition and strain state[CD]

پدیدآورنده: / Andreas Rosenauer

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه کردستان (کردستان)

موضوع: Semiconductors -- Analysis,Semiconductors -- Microscopy,Transmission electron microscopy

رده :
CD1747-49
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

1440. Transmission electron microscopy:physics of image formation and micro analysis

پدیدآورنده: / Ludwing Reimer

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)

موضوع: Transmission electrn microscopy

رده :
QH
212
.
T7
,
R55
1997
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO
  • »
  • 76
  • 75
  • 74
  • 73
  • 72
  • 71
  • 70
  • 69
  • 68
  • ...
  • 4
  • 3
  • 2
  • 1
  • «

پیشنهاد / گزارش اشکال

اخطار! اطلاعات را با دقت وارد کنید
ارسال انصراف
این پایگاه با مشارکت موسسه علمی - فرهنگی دارالحدیث و مرکز تحقیقات کامپیوتری علوم اسلامی (نور) اداره می شود
مسئولیت صحت اطلاعات بر عهده کتابخانه ها و حقوق معنوی اطلاعات نیز متعلق به آنها است
برترین جستجوگر - پنجمین جشنواره رسانه های دیجیتال