• صفحه اصلی
  • جستجوی پیشرفته
  • فهرست کتابخانه ها
  • درباره پایگاه
  • ارتباط با ما
  • تاریخچه
تعداد ۱۵۰۴ پاسخ غیر تکراری از ۱۵۷۱ پاسخ تکراری در مدت زمان ۰,۲۸ ثانیه یافت شد.

141. Atomic force microscopy in molecular and cell biology /

پدیدآورنده: Jiye Cai, editor.

کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع: Atomic force microscopy.,Microscopy, Atomic Force.,Molecular Structure.,Atomic force microscopy.,SCIENCE-- General.

رده :
QH212
.
A78
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

142. Atomic force microscopy in process engineering

پدیدآورنده: [edited by] W. Richard Bowen and Nidal Hilal.

کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع: Atomic force microscopy.,Production engineering.

رده :
RIS Bibtex ISO

143. Atomic force microscopy in process engineering

پدیدآورنده:

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)

موضوع: Atomic force microscopy. ; Production engineering. ;

رده :
RIS Bibtex ISO

144. Atomic force microscopy in process engineering

پدیدآورنده: / [edited by] W. Richard Bowen and Nidal Hilal

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)

موضوع: Atomic force microscopy.,Production engineering.

رده :
QH
,
212
,.
A78
,
B69
,
2009
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

145. Atomic force microscopy: methods and protocols

پدیدآورنده: / Edited by Nuno C. Santos and Filomena A. Carvalho.

کتابخانه: کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه کردستان (کردستان)

موضوع: Atomic force microscopy -- Laboratory manuals.,Microscopy, Atomic Force--methods--Laboratory Manuals.,Atomic Force.

رده :
RIS Bibtex ISO

146. Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching

پدیدآورنده: / G. Kaupp

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)

موضوع: Atomic force microscopy.,Near-field microscopy.

رده :
RIS Bibtex ISO

147. Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching :

پدیدآورنده:

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)

موضوع: Atomic force microscopy. ;

رده :
RIS Bibtex ISO

148. Atomic force microscopy, scanning nearfield optical microscopy and nanoscratching: application to rough and natural surfaces

پدیدآورنده: Kaupp, Gerd

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه صنعتی خواجه نصير الدين طوسى (تهران)

موضوع: ، Atomic force microscopy,، Near-field microscopy

رده :
QH
212
.
A78
K38
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

149. Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy 3

پدیدآورنده: edited by Samuel H. Cohen and Marcia L. Lightbody

کتابخانه: کتابخانه دانشگاه تحصیلات تکمیلی صنعتی و فناوری پیشرفته کرمان (کرمان)

موضوع: Congresses ، Atomic force microscopy,Congresses ، Scanning tunneling microscopy

رده :
QH
212
.
A78
A864
1999
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

150. Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy 2

پدیدآورنده: edited by Samuel H. Cohen and Marcia L. Lightbody

کتابخانه: کتابخانه دانشگاه تحصیلات تکمیلی صنعتی و فناوری پیشرفته کرمان (کرمان)

موضوع: ، Atomic force microscopy,، Scanning tunneling microscopy

رده :
QH
212
.
A78
A863
1997
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

151. Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy 3

پدیدآورنده: edited by Samuel H. Cohen and Marcia L. Lightbody.

کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع: Microscòpia d'escombratge per efecte túnel.,Microscòpia electrònica de rastreig.,Microscòpia electrònica d'escombratge.

رده :
QH212
.
A78
E358
2002
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

152. Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy

پدیدآورنده: edited by Samuel H. Cohen, Mona T. Bray, and Marcia L. Lightbody

کتابخانه: کتابخانه دانشگاه تحصیلات تکمیلی صنعتی و فناوری پیشرفته کرمان (کرمان)

موضوع: ، Atomic force microscopy,، Scanning tunneling microscopy

رده :
QH
212
.
A78
A86
1994
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

153. Backscattered scanning electron microscopy and image analysis of sediments and sedimentary rocks

پدیدآورنده: / David H. Krinsley ... [et al.]

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)

موضوع: Sedimentary rocks--Analysis,Sediments (Geology)--Analysis,Scanning electron microscopy.

رده :
QE
,
471
,.
B26
,
1998
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

154. Backscattered scanning electron microscopy and image analysis of sediments and sedimentary rocks

پدیدآورنده:

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)

موضوع: Sedimentary rocks ; Analysis. ;

رده :
RIS Bibtex ISO

155. Basic Electron Microscopy Techniques

پدیدآورنده: / M. A. Hayat,Hayat

کتابخانه: کتابخانه مرکز تحقیقات بیوشیمی و بیوفیزیک (دانشگاه تهران) (تهران)

موضوع: Electron microscopy--Technique.

رده :
QH
212
.
E4
H37
1972
W
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

156. Basic Malaria Microscopy

پدیدآورنده: / World Health Organization

کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه علوم پزشكی كاشان (اصفهان)

موضوع: Malaria-diagnosis-laboratory manuals

رده :
RIS Bibtex ISO

157. Basic confocal microscopy

پدیدآورنده: Robert L. Price, W. Gray )Jay( Jerome, editors

کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی همدان (همدان)

موضوع: ، Confocal microscopy

رده :
QH
224
.
B38
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

158. Basic electron microscopy techniques

پدیدآورنده: / [by] M. A. Hayat,Hayat

کتابخانه: کتابخانه مرکز تحقیقات بیوشیمی و بیوفیزیک (دانشگاه تهران) (تهران)

موضوع: Electron microscopy ــ Methodology.

رده :
QH
212
.
E4
H37
W
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

159. Basic electron microscopy techniques

پدیدآورنده: Hayat, M. Arif, 1936-

کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی اصفهان (اصفهان)

موضوع: Electron microscopy -- Technique

رده :
QH
212
.
E4
,
H37
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO

160. Basic malaria microscopy

پدیدآورنده:

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه الزهراء (س) (تهران)

موضوع: ، Malaria-- Diagnosis-- Laboratory manuals,، Microscopy-- Laboratory manuals,، Teaching materials

رده :
RA
10
.
B37
مشاهده در قفسه مجازی RIS Bibtex ISO
  • »
  • 76
  • 75
  • 74
  • 73
  • 72
  • ...
  • 12
  • 11
  • 10
  • 9
  • 8
  • 7
  • 6
  • 5
  • 4
  • 3
  • 2
  • 1
  • «

پیشنهاد / گزارش اشکال

اخطار! اطلاعات را با دقت وارد کنید
ارسال انصراف
این پایگاه با مشارکت موسسه علمی - فرهنگی دارالحدیث و مرکز تحقیقات کامپیوتری علوم اسلامی (نور) اداره می شود
مسئولیت صحت اطلاعات بر عهده کتابخانه ها و حقوق معنوی اطلاعات نیز متعلق به آنها است
برترین جستجوگر - پنجمین جشنواره رسانه های دیجیتال