• صفحه اصلی
  • جستجوی پیشرفته
  • فهرست کتابخانه ها
  • درباره پایگاه
  • ارتباط با ما
  • تاریخچه

عنوان
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis /

پدید آورنده
by Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy.

موضوع
Materials science.,Measurement.,Microscopy.,Physical measurements.,Spectrum analysis.,Biological Microscopy.,Characterization and Evaluation of Materials.,Materials science.,Materials Science.,Measurement Science and Instrumentation.,Measurement.,Microscopy.,Physical measurements.,Spectroscopy and Microscopy.,Spectroscopy.,Spectroscopy/Spectrometry.,Materials science.,Measurement.,Microscopy.,Physical measurements.,Spectrum analysis.

رده
TA404
.
6

کتابخانه
کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی

محل استقرار
استان: قم ـ شهر: قم

کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی

تماس با کتابخانه : 32910706-025
مشاهده در قفسه مجازی
RIS Bibtex ISO

شابک

شابک
1493966766
شابک
9781493966769

شماره کتابشناسی ملی

شماره
b623762

عنوان و نام پديدآور

عنوان اصلي
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis /
نام عام مواد
[Book]
نام نخستين پديدآور
by Joseph I. Goldstein, Dale E. Newbury, Joseph R. Michael, Nicholas W.M. Ritchie, John Henry J. Scott, David C. Joy.

وضعیت ویراست

وضعيت ويراست
4th ed. 2018.

مشخصات ظاهری

نام خاص و کميت اثر
1 Online-Ressource (XXIII, 550 p. 546 illus., 409 illus. in color)

ویراست دیگر از اثر در قالب دیگر رسانه

شماره استاندارد بين المللي کتاب و موسيقي
978-1-4939-6674-5

موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام)

موضوع مستند نشده
Materials science.
موضوع مستند نشده
Measurement.
موضوع مستند نشده
Microscopy.
موضوع مستند نشده
Physical measurements.
موضوع مستند نشده
Spectrum analysis.
موضوع مستند نشده
Biological Microscopy.
موضوع مستند نشده
Characterization and Evaluation of Materials.
موضوع مستند نشده
Materials science.
موضوع مستند نشده
Materials Science.
موضوع مستند نشده
Measurement Science and Instrumentation.
موضوع مستند نشده
Measurement.
موضوع مستند نشده
Microscopy.
موضوع مستند نشده
Physical measurements.
موضوع مستند نشده
Spectroscopy and Microscopy.
موضوع مستند نشده
Spectroscopy.
موضوع مستند نشده
Spectroscopy/Spectrometry.
موضوع مستند نشده
Materials science.
موضوع مستند نشده
Measurement.
موضوع مستند نشده
Microscopy.
موضوع مستند نشده
Physical measurements.
موضوع مستند نشده
Spectrum analysis.

رده بندی ديویی

شماره
620
.
11
ويراست
23

رده بندی کنگره

شماره رده
TA404
.
6

نام شخص به منزله سر شناسه - (مسئولیت معنوی درجه اول )

مستند نام اشخاص تاييد نشده
Goldstein, Joseph I.

نام شخص - (مسئولیت معنوی برابر )

مستند نام اشخاص تاييد نشده
Joy, David C.
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Michael, Joseph R.
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Newbury, Dale E.
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Ritchie, Nicholas W.M.
مستند نام اشخاص تاييد نشده
Scott, John Henry J.

مبدا اصلی

تاريخ عمليات
20200617082856.0
قواعد فهرست نويسي ( بخش توصيفي )
rda

دسترسی و محل الکترونیکی

نام الکترونيکي
 مطالعه متن کتاب 

اطلاعات رکورد کتابشناسی

نوع ماده
[Book]

اطلاعات دسترسی رکورد

تكميل شده
Y

پیشنهاد / گزارش اشکال

اخطار! اطلاعات را با دقت وارد کنید
ارسال انصراف
این پایگاه با مشارکت موسسه علمی - فرهنگی دارالحدیث و مرکز تحقیقات کامپیوتری علوم اسلامی (نور) اداره می شود
مسئولیت صحت اطلاعات بر عهده کتابخانه ها و حقوق معنوی اطلاعات نیز متعلق به آنها است
برترین جستجوگر - پنجمین جشنواره رسانه های دیجیتال