عنوان
پدید آورنده
موضوع
رده
#QC،#.D4,I54،#2000
#
QC
،#.
D4
,
I54
،#
2000
کتابخانه
محل استقرار
| ما بقی فیلدها | ، ، ، ،1،1،6،0769506372،GN141807،GN،01/04/1381،000 | |||||||||||
| شناسگر رکورد | GN141807 | |||||||||||
| شناسگر ويراست | #50399 | |||||||||||
| اطلاعات محلی رکورد | #BL | |||||||||||
| زبان اثر | انگلیسی | |||||||||||
| عنوان و نام پديدآور | #2000 IEEE International Workshop on Defect Based Testing #sponsored by IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee , edited by Yashwant K. Malaiya, Manoj Sachdev, Sankaran M. Menon | |||||||||||
| وضعیت نشر و پخش و غیره | Los Alamitos, Calif IEEE Computer Society #c2000 | |||||||||||
| مشخصات ظاهری | #82 p.: ill., 28 cm | |||||||||||
| یادداشتهای کلی مربوط به اطلاعات توصیفی | #: proceedings April 30, 2000, Montreal, Canada | |||||||||||
| موضوع (اسم عام یاعبارت اسمی عام) | Semiconductors- Defects- Congresses | |||||||||||
| رده بندی کنگره |
| |||||||||||
| سایر رده بندی ها | #611.6 | |||||||||||
| نام / عنوان به منزله شناسه افزوده | AU،Malaiya, Yashwant K |
