TY  - BOOK
A1  - Hnatek, Eugene R.
TI  - Digital integrated circuit testing from a quality perspective
PB  - کتابخانه مرکزی و مرکز اسناد دانشگاه شهید باهنر کرمان
SN  - 95048898
UR  /book/95048898/Digital-integrated-circuit-testing-from-a-quality/
ER  -