TY  - BOOK
A1  -  S. Lu
TI  - A parallel testing algorithm for pattern sensitive faults in random access memory
PB  - مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی
SN  - 90471679
UR  /book/90471679/A-parallel-testing-algorithm-for-pattern-sensitive/
ER  -